市場訊息
No. | 新聞標題 | 日期 | 閱讀數 |
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1 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 用於濺射沉積矽片金屬薄膜 | 2021-01-08 | 0 |
2 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM310 用於鍍膜機測漏 | 2021-01-08 | 0 |
3 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 用於鋁表面濺射沉積 ZrN 薄膜 | 2021-01-07 | 0 |
4 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於流量計測漏 | 2021-01-07 | 0 |
5 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 輔助磁控濺射沉積 Cu-W 膜 | 2021-01-06 | 0 |
6 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於消防器材鋼瓶測漏 | 2021-01-06 | 0 |
7 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於醫用PVC瓶測漏 | 2021-01-05 | 0 |
8 | Hakuto 離子蝕刻機 20IBE-J 用於陶瓷基片銀薄膜減薄 | 2021-01-05 | 0 |
9 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340D 用於 CCD 密封感光器件測漏 | 2021-01-04 | 0 |
10 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射製備類金剛石 Ta-C 塗層 | 2021-01-04 | 0 |