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No. 新聞標題 日期 閱讀數
1 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積納米純 Ti 薄膜 2021-01-20 0
2 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於鋰電池測漏 2021-01-20 0
3 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於燃料電池測漏 2021-01-19 0
4 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 鍍制氣體感測器 WO3 薄膜 2021-01-19 0
5 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於換熱器測漏 2021-01-18 0
6 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積製備碳薄膜 2021-01-15 0
7 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於斷路器測漏 2021-01-15 0
8 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積 BCx 薄膜 2021-01-18 0
9 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於MOCVD 設備測漏 2021-01-14 0
10 Hakuto 離子蝕刻機 20IBE-J 用於陶瓷板 Pt、Au、Cr 薄膜刻蝕 2021-01-14 0
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