最新消息
No. | 新聞標題 | 日期 | 閱讀數 |
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1 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積納米純 Ti 薄膜 | 2021-01-20 | 0 |
2 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於鋰電池測漏 | 2021-01-20 | 0 |
3 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於燃料電池測漏 | 2021-01-19 | 0 |
4 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 鍍制氣體感測器 WO3 薄膜 | 2021-01-19 | 0 |
5 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於換熱器測漏 | 2021-01-18 | 0 |
6 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積製備碳薄膜 | 2021-01-15 | 0 |
7 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於斷路器測漏 | 2021-01-15 | 0 |
8 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積 BCx 薄膜 | 2021-01-18 | 0 |
9 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於MOCVD 設備測漏 | 2021-01-14 | 0 |
10 | Hakuto 離子蝕刻機 20IBE-J 用於陶瓷板 Pt、Au、Cr 薄膜刻蝕 | 2021-01-14 | 0 |