最新消息
No. | 新聞標題 | 日期 | 閱讀數 |
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1 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於 PECVD 測漏 | 2021-01-13 | 0 |
2 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積 NSN70 隔熱膜 | 2021-01-13 | 0 |
3 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM310 用於電廠測漏 | 2021-01-12 | 0 |
4 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFCIP220 濺射沉積紅外器件介質膜 | 2021-01-12 | 0 |
5 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 成功用於複合磁控濺射沉積裝置 | 2021-01-11 | 0 |
6 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於刀具鍍膜機測漏 | 2021-01-11 | 0 |
7 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 用於濺射沉積矽片金屬薄膜 | 2021-01-08 | 0 |
8 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM310 用於鍍膜機測漏 | 2021-01-08 | 0 |
9 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 用於鋁表面濺射沉積 ZrN 薄膜 | 2021-01-07 | 0 |
10 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於流量計測漏 | 2021-01-07 | 0 |