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No. 新聞標題 日期 閱讀數
1 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於 PECVD 測漏 2021-01-13 0
2 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積 NSN70 隔熱膜 2021-01-13 0
3 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM310 用於電廠測漏 2021-01-12 0
4 KRI 考夫曼射頻離子源 RFCIP220 濺射沉積紅外器件介質膜 2021-01-12 0
5 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 成功用於複合磁控濺射沉積裝置 2021-01-11 0
6 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於刀具鍍膜機測漏 2021-01-11 0
7 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 用於濺射沉積矽片金屬薄膜 2021-01-08 0
8 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM310 用於鍍膜機測漏 2021-01-08 0
9 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 用於鋁表面濺射沉積 ZrN 薄膜 2021-01-07 0
10 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於流量計測漏 2021-01-07 0
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