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No. 新聞標題 日期 閱讀數
1 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射沉積半導體 IGZO 薄膜 2021-02-25 0
2 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於胎壓感測器測漏 2021-02-25 0
3 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 鍍制紅外器件 ZnS 薄膜 2021-02-24 0
4 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASI35 用於汽車燃油箱測漏 2021-02-24 0
5 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積鈦金屬薄膜 2021-02-23 0
6 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM182TD+ 用於光無源器件測漏 2021-02-23 0
7 KRI 考夫曼射频离子源 RFICP380 成功用于多靶磁控溅射镀膜机 2021-01-22 0
8 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於熱管測漏 2021-01-22 0
9 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積 MoN 薄膜 2021-01-21 0
10 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於焊接容器測漏 2021-01-21 0
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