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伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 輔助 LED封裝

 

在 LED(發光二極體 )封裝工藝工程中, 器件表面的氧化物及顆粒污染物會降低產品的可靠性, 影響產品的品質. 某 LED製造商為了保證有效清洗 LED 器件表面的氧化物及顆粒污染物, 採用伯東伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 在LED 封裝前進行離子清洗.

 

伯東 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 技術參數:

離子源型號

RFICP220

Discharge

RFICP 射頻

離子束流

>800 mA

離子動能

100-1200 V

柵極直徑

20 cm Φ

離子束

聚焦, 平行, 散射

流量

10-40 sccm

通氣

Ar, Kr, Xe, O2, N2, H2, 其他

典型壓力

< 0.5m Torr

長度

30 cm

直徑

41 cm

中和器

LFN 2000

 

客戶清洗的工作流程:

在真空狀態下, 利用射頻源將氬氣電離成高能量的離子去撞擊LED上的有機污染物及微顆粒污染物, 從而使得污染物被轟擊除掉.

 

為了避免二次污染, 該清洗工藝, 真空度要求10-7 hPa, 客戶採用的是伯東Pfeiffer 渦輪分子泵 HiPace 1800 UC, 該型號可以倒裝和抗腐蝕,

 

伯東 Pfeiffer 渦輪分子泵 HiPace 1800 技術參數:

分子泵型號

介面 DN

抽速 l/s

壓縮比

最高啟動壓強mbar

極限壓力

全轉速氣體流量hPa l/s

啟動
時間

重量

進氣

排氣

氮氣
N2

氦氣He

氫氣 H2

氮氣
N2

氮氣N2

 hPa

氮氣N2

min

kg

Hipace 1800 UC

200

40

1,450

1,650

1,700

> 1X108

1.8

< 1X10–7

20

4

33 – 34

 

運行結果:

從下圖離子射頻清洗氧化膜前後對比可以看出, KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 有效的清洗除去污染物

從使用和未使用離子清洗的拉力強度對比, 使用離子清洗後鍵合引線拉力強度有明顯增加

 

伯東是德國 Pfeiffer 真空泵,  測漏儀,  質譜儀,  真空計,  美國 KRI 考夫曼離子源,  美國 inTEST 高低溫衝擊測試機,  美國 Ambrell 感應加熱設備和日本 NS 離子蝕刻機等進口知名品牌的指定代理商.

 

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