最新消息
No. | 新聞標題 | 日期 | 閱讀數 |
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1 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射多層沉積 Nb3Sn 超導薄膜 | 2021-03-04 | 0 |
2 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於不銹鋼管測漏 | 2021-03-04 | 0 |
3 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 封裝鐳射晶片測漏 | 2021-03-05 | 0 |
4 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 製備富矽 SiNx 薄膜 | 2021-03-03 | 0 |
5 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於 LNG 儲罐測漏 | 2021-03-03 | 0 |
6 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 製備 NGZO 薄膜 | 2021-03-02 | 0 |
7 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於波紋管測漏 | 2021-03-02 | 0 |
8 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 製備 IFBA 芯塊 ZrB2 塗層 | 2021-03-01 | 0 |
9 | 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用凍幹機製冷系統測漏 | 2021-03-01 | 0 |
10 | KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積 ZnNi 合金薄膜 | 2021-02-26 | 0 |