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No. 新聞標題 日期 閱讀數
1 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 濺射多層沉積 Nb3Sn 超導薄膜 2021-03-04 0
2 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM390 用於不銹鋼管測漏 2021-03-04 0
3 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 封裝鐳射晶片測漏 2021-03-05 0
4 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 製備富矽 SiNx 薄膜 2021-03-03 0
5 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於 LNG 儲罐測漏 2021-03-03 0
6 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP140 製備 NGZO 薄膜 2021-03-02 0
7 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用於波紋管測漏 2021-03-02 0
8 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP380 製備 IFBA 芯塊 ZrB2 塗層 2021-03-01 0
9 伯東 Pfeiffer 氦質譜測漏儀 ASM340 用凍幹機製冷系統測漏 2021-03-01 0
10 KRI 考夫曼射頻離子源 RFICP220 濺射沉積 ZnNi 合金薄膜 2021-02-26 0
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